1. 研究目的与意义
1.1系统开发的背景
LED产品是利用发光二极管作为光源制造生产出来的照明器具。随着生产工艺的提高，LED产品凭借使用寿命长、工作电压宽、能耗低、易维护等优点迅速占领市场。
但随着LED工作时长的增加，器件的电学性能与光学性能逐渐退化，其原因主要来自LED电极失效、芯片失效以及器件封装材料失效。芯片的老化机理，包括热量积累导致的热机械应力加强、芯片裂纹扩大，工艺不良导致的芯片粘结层完全脱离粘结面等。封装的老化机理主要是高温与潮湿导致封装材料劣化，水汽渗入封装材料内部，导致引线变质、PCB铜箔锈蚀，随水汽引入的可动导电离子会驻留在芯片表面，从而造成漏电。老化的LED灯发光效率会大大降低，色温的纯度下降，甚至发生烧毁。
2. 研究内容与预期目标
2.1主要内容：
1．研究LED的老化机理，研究电流、温度等不同因素对LED老化速率的影响，研究表征LED老化程度的特征量及其特性；
2．阅读相关文献，设计LED寿命试验系统的各个组成部分；
3．搭建LED寿命试验系统，完成系统测试；
3. 研究方法与步骤
3.1 研究方案
设计LED寿命试验系统
搭建LED寿命试验系统
4. 参考文献
[1]夏云云，文尚胜，方方，基于Kolmogorov-Smirnov检验的LED可靠性评估[J].光子学报, 2016,45(09):26-31.
[2]Fan J , Yung K C , Pecht MG . Predicting long-term lumen maintenance life of LED light sources using aparticle filter-based prognostic approach.[M]. Pergamon Press, Inc. 2015.
[3]张建平. 基于LSM的红外LED加速寿命试验数据的统计分析[J].半导体光电, 2005,26(2):92-96.
5. 工作计划
（1）2022.2.25～2022.3.11；开题报告撰写并上交：
（2）2022.3.12～2022.4.20；毕业设计第一稿撰写并上交：
（3）2022.4.23～2022.5.08；毕业设计第二稿撰写并上交：
